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F40/F42系列:基于顯微鏡的測量儀器
F40/F42系列:基于顯微鏡的測量儀器
    F40可固定到您的顯微鏡上來測量小至 2.5 um 點的厚度和折射率。
    F42完整的2-D 厚度顯微測繪系統。
 

 
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